產(chǎn)品資料

耐壓測試分析儀

如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱: 耐壓測試分析儀
產(chǎn)品型號(hào): 19055
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

簡單介紹

500VA輸出 Floating輸出設(shè)計(jì),符合EN50191要求 Corona電暈放電偵測(19055-C) Flashover電氣閃絡(luò)偵測 BDV崩潰電壓分析 **HFCC高頻接觸偵測 **OSC開短路偵測 GFI人體保護(hù)電路 標(biāo)準(zhǔn)RS232&HANDLER界面 可選購GPIB界面 **時(shí)面板鎖定功能 可程序電壓輸出及測試限制值 支持A190301高壓掃描治具


耐壓測試分析儀  的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
  • 500VA輸出
  • Floating輸出設(shè)計(jì),符合EN50191要求
  • Corona電暈放電偵測(19055-C)
  • Flashover電氣閃絡(luò)偵測
  • BDV崩潰電壓分析
  • **HFCC高頻接觸偵測
  • **OSC開短路偵測
  • GFI人體保護(hù)電路
  • 標(biāo)準(zhǔn)RS232&HANDLER界面
  • 可選購GPIB界面
  • **時(shí)面板鎖定功能
  • 可程序電壓輸出及測試限制值
  • 支持A190301高壓掃描治具
功能
  • 耐壓測試 
    • 交流5kV/100mA 
    • 直流6kV/25mA
  • 絕緣電阻測試 
    • 5kVmax 
    • 1MΩ~50GΩ
Chroma 19055耐壓分析儀為針對耐壓測試與分析所設(shè)計(jì)的設(shè)備。其具備500VA大功率,*大輸出交流5kV/100mA,符合大功率耐壓測試需求,以及符合EN50191的設(shè)備要求(詳細(xì)信息請參考應(yīng)用文件)。
19055-C系列除了基本的交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻測試外,加入新研發(fā)的電暈放電偵測功能 (Corona Discharge Detection, CDD),可經(jīng)由崩潰電壓分析(Breakdown Voltage Analysis)分別檢出:
  • 電暈放電啟始電壓(Corona discharge Start Voltage, CSV)
  • 電氣閃絡(luò)啟始電壓(Flashover Start Voltage, FSV)
  • 絕緣崩潰電壓(Breakdown Voltage, BDV)
對于測試時(shí)的接觸檢查議題,除原有**設(shè)計(jì)OSC開短路偵測(Open Short Check)外,新增高頻接觸檢查(High Frequency Contact Check, HFCC),高壓輸出前進(jìn)行接觸檢查,提升測試可靠度與效率。
為體貼使用者,Chroma 19055置入大型LCD顯示屏幕,方便操作與判斷。加入GFI 人體保護(hù)電路以及Floating**輸出設(shè)計(jì),保護(hù)操作人員的**,讓您在操作時(shí)無后顧之憂。
 量測技術(shù)
耐壓測試絕緣崩潰(BREAKDOWN) /電氣閃絡(luò)(FLASHOVER) /電暈放電偵測技術(shù)(CORONA)
何謂耐壓**? 大部份的電氣安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)敘述為"During the test, no flashover or breakdown shall occur",意指在耐壓測試中,不得有電氣閃絡(luò)或絕緣崩潰發(fā)生。但現(xiàn)今絕緣失效(Failure)及放電(discharge)已成為各類絕緣材料或耐壓零組件*重視的議題。由于放電與絕緣能力之間具有極高的相關(guān)性,所以放電偵測不僅是**議題,更是控制產(chǎn)品質(zhì)量的主要關(guān)鍵。若依材料放電的性質(zhì)來分類,放電可分為三種:電暈放電(Corona discharge)、火花放電(Glow discharge)、電弧放電(Arc discharge)。
電暈放電(Corona Discharge)
當(dāng)二電極間承受較高電壓時(shí),電場強(qiáng)度相對較大,當(dāng)此作用大于氣體之電離位能(Ionization Potential),于材料表面氣體發(fā)生瞬時(shí)離子化的現(xiàn)象,此時(shí)會(huì)有可見光出現(xiàn)以及溫升現(xiàn)象。長期的電暈放電與溫升可能會(huì)造成材料的質(zhì)變(Qualitative Change),進(jìn)而導(dǎo)致絕緣劣化 (Insulation Deterioration) ,使得絕緣耐受程度下降,*終發(fā)生絕緣失效。圖1為電暈放電示意圖。由于電暈放電會(huì)產(chǎn)生高頻的瞬時(shí)放電,是可以用高頻電量量測的方式偵測。

火花放電(Glow Discharge)及電弧放電(Arc Discharge)
絕緣材料內(nèi)部或表面因高電壓產(chǎn)生電氣放電,待測物失去原有之絕緣特性,形成瞬時(shí)或非連續(xù)性放電,嚴(yán)重者會(huì)導(dǎo)致碳化產(chǎn)生導(dǎo)電通路或產(chǎn)品傷害。如右圖2可知,瞬間瞬時(shí)的放電并無法以漏電流量判定檢出**,須以測試電壓或漏電流之變化率判定檢出**。因此電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC)偵測為高壓測試不可或缺的檢測項(xiàng)目之一。


針對不同放電的環(huán)境,Chroma 19055提供對應(yīng)的放電特性偵測技術(shù),包含電暈放電(Corona)偵測(19055-C only),電氣閃絡(luò) (ARC/Flashover)偵測以及漏電流判定(絕緣破壞Breakdown),這些功能可成為研發(fā)或品保單位在耐壓測試與分析時(shí)的*佳利器。


崩潰電壓分析(BREAKDOWN VOLTAGE ANALYSIS, BDV)
被動(dòng)組件的高壓耐受程度(withstanding voltage)決定于材料及制程。為提升組件的絕緣質(zhì)量及能力,需要分析放電的程度,其包含電暈放電(Corona discharge)、電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC)及絕緣破壞(Breakdown)的耐受程度。Chroma 19055耐壓分析儀新增崩潰電壓分析(Breakdown Voltage Analysis, BDV)功能。經(jīng)由設(shè)定爬升的啟始電壓、結(jié)束電壓、次數(shù)及時(shí)間,進(jìn)行放電程度分析。
崩潰電壓分析(Breakdown Voltage Analysis, BDV)功能提供三階段判斷方式,可設(shè)定電暈放電檢測(Corona limit)、電氣閃絡(luò)檢測(Flashover/ARC)、絕緣崩潰檢測(Breakdown, high limit)。當(dāng)測試中有**出現(xiàn)時(shí),Chroma 19055會(huì)依放電不同階段的限制值,顯示出耐壓強(qiáng)度(withstanding voltage),其分別代表電暈放電啟始電壓(Corona discharge Start Voltage, CSV)、電氣閃絡(luò)啟始電壓(Flashover Start Voltage, FSV) 以及絕緣崩潰電壓(Breakdown Voltage, BDV)。藉由這些測試結(jié)果,研究人員可以對產(chǎn)品進(jìn)行分析與研究,針對組件絕緣較弱的部份進(jìn)行改善。
防止產(chǎn)品測試時(shí)接觸失敗高頻接觸檢查(HFCC)&開短路偵測(OSC)
高頻接觸檢查功能(High Frequency Contact Check, HFCC) 是 Chroma新研發(fā)的接觸檢查技術(shù)。HFCC設(shè)計(jì)在AC/DC耐壓測試項(xiàng)目之中,當(dāng)耐壓測試進(jìn)行時(shí),一并檢查是否有接觸**的問題。HFCC之測試頻率提高至約 500KHz,可大幅提升接觸檢查的準(zhǔn)確度,并有效提升產(chǎn)線生產(chǎn)效率。
在耐壓測試過程中若發(fā)生開路現(xiàn)象,會(huì)導(dǎo)致**品誤判為良品;若發(fā)生短路現(xiàn)象,可提早得知并篩選,減少對治具設(shè)備的傷害,節(jié)省測試成本。
一般耐壓測試產(chǎn)品皆呈電容性 (Cx),在正常狀態(tài)下可能在數(shù)十 pF至數(shù)μ F之間,一旦發(fā)生連接斷路則會(huì)在斷路界面形成微小電容量 (圖4.2之Cc),一般低于 10pF,而呈現(xiàn)整體電容量遠(yuǎn)低于正常產(chǎn)品現(xiàn)象。而當(dāng)待測物短路或接近短路時(shí)時(shí)則會(huì)呈現(xiàn)電容量遠(yuǎn)高于正常現(xiàn)象。因此可利用電容量變化之上下限值判斷,減少產(chǎn)線接觸**的問題發(fā)生。


▲ 圖4.1:正常測試狀態(tài)                              ▲ 圖4.2:測試回路開路 Cm = Cc * Cx / (Cc + Cx) << Cx

▲ 圖4.3:測試回路短路 Cm >> Cx
人員**保護(hù)設(shè)計(jì)輸出電路功能(FLOATING OUTPUT)與接地失效中斷(GROUND FAULT INTERRUPT, GFI)
安規(guī)測試的目的是為了保護(hù)產(chǎn)品用戶的**。而當(dāng)作業(yè)員在操作儀器時(shí),也需要儀器的保護(hù)設(shè)計(jì)。Chroma 19055擁有二種作業(yè)員保護(hù)**設(shè)計(jì)供選擇,分別為浮接輸出(Floating Output)及接地失效中斷(GFI)設(shè)計(jì)。
為了讓測試人員能**無慮的使用安規(guī)測試設(shè)備,Chroma 以全新技術(shù)研發(fā)Floating 輸出電路,并符合EN50191設(shè)備**標(biāo)準(zhǔn)。在Floating輸出的狀態(tài)下,對地具有高阻抗,無論測試人員碰觸到任何耐壓測試端子,接地的漏電流iH皆不會(huì)大于3.5mA,測試人員不會(huì)受到電氣傷害。如圖5所示。
GFI 功能為另一項(xiàng)人體保謢電路。如圖6可知,可由電流表A1及A2分別得到i1 及 i2 ; 當(dāng)操作人員觸電時(shí),電流表分別測得不同數(shù)值,其差異為i1 - i2 = iH , 當(dāng)iH過高時(shí),即判定為GFI**,并會(huì)立即切斷輸出訊號(hào),保障用戶的**。


▲ 圖5:Floating 輸出電路示意圖                            ▲ 圖6:GFI 接地失效中斷電路示意圖
 產(chǎn)品應(yīng)用
Chroma 19055-C耐壓分析儀具備電暈放電偵測功能(CDD),進(jìn)行電暈放電偵測,降低客訴發(fā)生率。并可使用崩潰電壓分析功能(BDV)尋找產(chǎn)品的電暈放電啟始電壓(CSV)、電氣閃絡(luò)啟始電壓(FSV)及絕緣崩潰電壓(BDV),對于產(chǎn)品研發(fā)階段的絕緣能力驗(yàn)證,以及產(chǎn)品制程的可靠度,提供參考的數(shù)據(jù)。
常態(tài)電壓下電暈放電檢測
變壓器:當(dāng)電子產(chǎn)品在常態(tài)電壓使用時(shí),若內(nèi)部初級電路絕緣**,導(dǎo)致初級端的繞組長期處于電暈放電狀態(tài),在經(jīng)過一段時(shí)間后,必然會(huì)影響絕緣能力。電源變壓器就是一個(gè)例子,目前部份電源變壓器之設(shè)計(jì),多會(huì)保留一組參考線圈予其他電路使用,如圖 7.2所示,在長期的 Vpk=750V下,當(dāng)制作工藝**, 如絕緣膠帶加工**,套管**等,導(dǎo)致持續(xù)性電暈性放電發(fā)生,初級繞阻間的絕緣能力將會(huì)有所影響,進(jìn)而漆包碳化而燒毀。

▲ 圖7.1:絕緣膠帶加工**                          ▲ 圖7.2:變壓器初級工藝**,導(dǎo)致絕緣**

馬達(dá):旋轉(zhuǎn)電機(jī)類產(chǎn)品如工業(yè)用馬達(dá)或電動(dòng)車用馬達(dá)等,由于使用時(shí)間較長且使用環(huán)境溫濕度變化大,需求高耐用性與可靠度。溫度與濕度也是影響絕緣的要素,若在線圈與線圈間,及線圈對鐵心發(fā)生電暈放電,將導(dǎo)致長期的溫升與材料質(zhì)變化,導(dǎo)致絕緣劣化。在耐壓測試中加入電暈放電測試功能,提高對絕緣質(zhì)量的要求,可找出絕緣能力較不佳的產(chǎn)品,有效降低因長期使用而發(fā)生的**機(jī)率。

▲ 圖8:馬達(dá)內(nèi)部電暈放電
電容器/絕緣材料之高壓耐受性測試:高壓耐受性測試常使用在高壓電容器,安規(guī)電容器、以及絕緣材料之驗(yàn)證。當(dāng)絕緣介質(zhì)間因制程導(dǎo)致裂痕或含有氣泡時(shí),一旦進(jìn)行耐壓測試,將形成不同的電場狀態(tài),進(jìn)而發(fā)生電暈放電現(xiàn)象。長期將導(dǎo)致介質(zhì)狀態(tài)變化,而絕緣**,發(fā)生質(zhì)量議題。

▲ 圖9:氣泡放電示意圖

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